GOM schreibt einen internationalen Wettbewerb für Studenten zum Thema 3D-Scannen aus.

GOM schreibt einen internationalen Wettbewerb für Studenten zum Thema 3D-Scannen aus. (Bild: GOM)

Eine Fachjury bewertet die Vorschläge, die bis zum 30. Juni 2017 auf Englisch eingereicht werden müssen. Der Gewinner erhält den mit 3.000 Euro dotierten GOM Education Award und die einmalige Gelegenheit, die Arbeit während der GOM 3D Metrology Conference 2017 Industrievertretern namhafter Unternehmen vorzustellen.

Mit dem GOM Education Award fördert GOM die praxisnahe Ausbildung im Bereich 3D-Messtechnik. Denn das vollflächige 3D-Scannen hat sich als Industriestandard im Reverse Engineering und der Qualitätssicherung etabliert. Es bildet außerdem die Grundlage für Industrie 4.0, da die vollständige 3D-Digitalisierung von Bauteilen erst die selbststeuernde Qualitätssicherung in Produktionsprozessen ermöglicht.

Zur Förderung des Unterrichts an berufsbildenden Schulen, Hochschulen und Universitäten hat GOM außerdem das Bildungspaket „ATOS for Education“ entwickelt. Es beinhaltet nicht nur industrielle Hardware und eine leistungsstarke Software für 3D-Scannen und -Inspektion, sondern auch ausgearbeitete Laborversuche und Vorlesungsmaterialien. Für Anwendungen im Bereich Material- und Bauteilprüfung bietet GOM zusätzlich das Paket „ARAMIS for Education“ an.

Informationen zum GOM Education Award und Anmeldung unter
www.gom.com/de/messsysteme/bildung/gom-education-award.html

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